Number of the records: 1

mikroskopia elektrónová objemová

Subject h.	mikroskopia elektrónová objemová
Subject h.	Volume Electron Microscopy
Entry terms	FIB-SEM SBF-SEM ssTEM SEM s fokusovaným iónovým zväzkom mikroskopia elektrónová skenovacia, s fokusovaným iónovým zväzkom mikroskopia elektrónová rastrovacia, s fokusovaným iónovým zväzkom serial block-face SEM rezanie sériové, TEM mikroskopia elektrónová transmisná, so sériovým rezaním blokov EM objemová vEM objemová elektrónová mikroskopia
English X references	FIB-SEM Focused Ion Beam SEM Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy SBF-SEM Serial Block-Face SEM Serial Block-Face Scanning Electron Microscopy Serial Sectioning TEM Serial Sectioning Transmission Electron Microscopy Volume EM ssTEM vEM Volume Electron Microscopy
Scope note in English	Electron microscopy techniques designed to reconstruct 3-D images at micrometer volume scales at nanometer (nm) level resolutions. Volume electron microscopy uses various techniques to render, segment and reconstruct 3-D images from stacked sequential 2-D images of incremental z-planes.

subject heading

Number of the records: 1