mikroskopia atómových síl mikroskopia atomárnych síl mikroskopia silová skenovacia mikroskopia silová
Angl. X odkazy
Atomic Force Microscopy Force Microscopy Scanning Force Microscopy
Vysvetľujúca pozn. v angl.
A type of scanning probe microscopy in which a probe systematically rides across the surface of a sample being scanned in a raster pattern. The vertical position is recorded as a spring attached to the probe rises and falls in response to peaks and valleys on the surface. These deflections produce a topographic map of the sample.
Pozri aj (FX) v slov.
mikroskopia skenovacia tunelová
Pozri aj (FX) v angl.
Microscopy, Scanning Tunneling
Odkazy
(4) - ČLÁNKY
(1) - heslo MeSH
(1) - KNIHY
predmetové heslo
Počet záznamov: 1
openseadragon
Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom
ako používame cookies.
