A type of scanning probe microscopy in which a very sharp conducting needle is swept just a few angstroms above the surface of a sample. The tiny tunneling current that flows between the sample and the needle tip is measured, and from this are produced three-dimensional topographs. Due to the poor electron conductivity of most biological samples, thin metal coatings are deposited on the sample.
Pozri aj (FX) v slov.
mikroskopia atómová silová
Pozri aj (FX) v angl.
Microscopy, Atomic Force
Odkazy
(2) - ČLÁNKY
(1) - heslo MeSH
predmetové heslo
Počet záznamov: 1
openseadragon
Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom
ako používame cookies.
